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高低(di)溫(wen)濕(shi)熱實驗箱(xiang)主要用于對(dui)產品按照國家標準要求或(huo)用戶自定要求，在低(di)溫(wen)、高溫(wen)、高溫(wen)高濕(shi)條件下，對(dui)產品的物理(li)以(yi)及其他相關特性進行環(huan)境模擬測(ce)試，測(ce)試后，通過檢測(ce)，來(lai)判斷(duan)產品的性能。

高低(di)溫交變試驗箱(xiang)是航(hang)空、汽車、家電、科研等領域(yu)*的(de)測(ce)試設備(bei)，用于測(ce)試和(he)確定(ding)電工、電子及(ji)(ji)其他產品及(ji)(ji)材料進(jin)行高溫、低(di)溫、交變溫度或(huo)恒定(ding)試驗的(de)溫度環境變化后的(de)參數及(ji)(ji)性能

光(guang)伏組(zu)(zu)件(jian)(jian)濕(shi)熱試驗箱(xiang)主(zhu)要是單晶硅組(zu)(zu)件(jian)(jian)，地面(mian)(mian)用(yong)晶體硅光(guang)伏組(zu)(zu)件(jian)(jian)，地面(mian)(mian)用(yong)薄膜光(guang)伏組(zu)(zu)件(jian)(jian)等一(yi)系列的(de)關伏件(jian)(jian)進行高溫、低溫、交變(bian)(bian)濕(shi)熱度(du)或恒(heng)定試驗的(de)溫度(du)環境變(bian)(bian)化后(hou)的(de)參數及(ji)性能

用于測試(shi)光(guang)(guang)伏組(zu)件(jian)(jian)(jian)，主要(yao)是單晶硅(gui)組(zu)件(jian)(jian)(jian)，地(di)面用晶體硅(gui)光(guang)(guang)伏組(zu)件(jian)(jian)(jian)，地(di)面用薄膜光(guang)(guang)伏組(zu)件(jian)(jian)(jian)等一系列的光(guang)(guang)伏組(zu)件(jian)(jian)(jian)進行紫外光(guang)(guang)加速(su)耐候試(shi)驗可以(yi)再現陽光(guang)(guang)所產生(sheng)的破壞。

光(guang)伏(fu)組件(jian)溫濕度循環(huan)試驗(yan)箱用于測試光(guang)伏(fu)組件(jian)，主(zhu)要是單晶硅(gui)組件(jian)，地面用晶體硅(gui)光(guang)伏(fu)組件(jian)，地面用薄膜光(guang)伏(fu)組件(jian)等一系列的關伏(fu)件(jian)進行(xing)高溫、低溫、交變濕熱(re)度或(huo)恒定試驗(yan)的溫度環(huan)境變化后的參數及性(xing)能